а√天堂网WWW最新版资源_中文天堂WWW网在线最新版_在线资源天堂WWW_天堂影视WWW在线资源_天堂中文WWW官网天堂_√天堂资源中文WWW_天堂网在线最新版WWW_天堂网在线观看_中文在线а√天堂官网_中文在线最新版天堂8_天堂网WWW中文在线资源_天堂网在线最新版WWW资源网

   本儀器采用準動態(tài)法（具有技術）和四探針法分別測量樣品的 seebeck 系數(shù)和電阻率。不
僅可用于測量半導體塊狀樣品，康銅、鎳、鉍等金屬半金屬樣品，石墨、碳材料等非金屬樣品的
seebeck 系數(shù)和電阻率，還可測薄膜（納米）樣品的 seebeck 系數(shù)和電阻率。

*優(yōu)勢
擁有獨立知識產權，獲得多項技術；
?

動態(tài)法測量 seebeck 系數(shù)，避免了傳統(tǒng)靜態(tài)測量法在溫差測量方面的系統(tǒng)誤差，測量更準確；
?

seebeck 系數(shù)和電阻率測量不共用電壓探針，避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題；
?

采用雙向加熱系統(tǒng)；
?

自動斷電保護；
?

附有薄膜附件（無需主機，直接使用），可直接測量薄膜材料常溫下的 seebeck 系數(shù)和電阻率。