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首頁 > 資料下載 > 薄膜無損檢測 相變溫度和熱膨脹系數(shù)-光功率熱分析儀(OPA)

薄膜無損檢測 相變溫度和熱膨脹系數(shù)-光功率熱分析儀(OPA)

點擊次數(shù):1032 發(fā)布時間:2015/7/8
提 供 商: 上海昊擴科學器材有限公司 資料大小: JPG
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    本儀器為無損檢測,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)。OPA 的研發(fā)成功,一舉*補
了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數(shù)的性技術(shù)空白, 能測量低至5nm的薄膜材料。
本儀器擁有多項發(fā)明,具有獨立知識產(chǎn)權(quán)。

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